Лапшин Р. В. является членом Российского общества сканирующей зондовой микроскопии и нанотехнологии, рецензентом журналов Review of Scientific Instruments, Measurement Science and Technology, Nanotechnology, IEEE Transactions on Ultrasonics, Ferroelectrics, and Frequency Control, экспертом Российской корпорации нанотехнологий

Трудовая деятельность
Образование
Статьи
Доклады
Патенты
Гранты
Диссертация
Контактная информация

Трудовая деятельность

• 1996 – по наст. вр., научный сотрудник НИИ Физических проблем им. Ф. В. Лукина, г. Зеленоград
• 1990 – 1996, научный сотрудник НИИ Микроэлектроники и нанотехнологии “Дельта”, г. Москва
• 1988 – 1989, инженер Московского государственного технического университета им. Н. Э. Баумана, г. Москва

Образование

• 1990 – 1993, аспирант НИИ “Научный центр”, г. Зеленоград
• 1984 – 1990, студент Московского государственного технического университета им. Н. Э. Баумана, факультет Радиоэлектроники и лазерной техники, г. Москва

Статьи

1. R. V. Lapshin, “Feature-oriented scanning probe microscopy”, Encyclopedia of Nanoscience and Nanotechnology, Edited by H. S. Nalwa, American Scientific Publishers, chapter 269, 2010.
2. Р. В. Лапшин, А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, С. Л. Одинцов, В. А. Кротков, “Сглаживание наношероховатостей поверхности полиметилметакрилата вакуумным ультрафиолетом”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 1, стр. 5-16, 2010; R. V. Lapshin, A. P. Alekhin, A. G. Kirilenko, S. L. Odintsov, V. A. Krotkov, “Vacuum ultraviolet smoothing of nanometer-scale asperities of poly(methyl methacrylate) surface”, Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, volume 4, number 1, pages 1-11, 2010.
3. R. V. Lapshin, “Availability of feature-oriented scanning probe microscopy for remote-controlled measurements on board a space laboratory or planet exploration rover”, Astrobiology, volume 9, number 5, pages 437-442, 2009.
4. Р. В. Лапшин, “Способ автоматической коррекции искаженных дрейфом СЗМ-изображений”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 11, стр. 13-20, 2007; R. V. Lapshin, “A method for automatic correction of drift-distorted SPM images”, Journal of Surface Investigation. X-ray, Synchrotron and Neutron Techniques, volume 1, number 6, pages 630-636, 2007.
5. R. V. Lapshin, “Automatic drift elimination in probe microscope images based on techniques of counter-scanning and topography feature recognition”, Measurement Science and Technology, volume 18, issue 3, pages 907-927, 2007.
6. А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, А. И. Козлитин, Р. В. Лапшин, С. Н. Мазуренко, “Синтез гидрофобно-гидрофильных наноструктур на поверхности полимеров с помощью углеродной низкотемпературной плазмы”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 11, стр. 8-11, 2006.
7. Р. В. Лапшин, “Автоматическая распределенная калибровка сканера зондового микроскопа”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 11, стр. 69-73, 2006.
8. R. V. Lapshin, “Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology”, Nanotechnology, volume 15, issue 9, pages 1135-1151, 2004.
9. А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, Р. В. Лапшин, “Морфология поверхности тонких углеродных пленок, осажденных из плазмы на полиэтилен низкой плотности”, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, № 2, стр. 3-9, 2004.
10. А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, Р. В. Лапшин, Р. И. Романов, А. А. Сигарев, “Исследование наноструктурированного углерода на полиэтилене”, Журнал прикладной химии, том 76, выпуск 9, стр. 1536-1540, 2003; A. P. Alekhin, A. G. Kirilenko, R. V. Lapshin, R. I. Romanov, A. A. Sigarev, “Nanostructured carbon coatings on polyethylene films”, Russian Journal of Applied Chemistry, volume 76, number 9, pages 1497-1501, 2003.
11. R. V. Lapshin, “Digital data readback for a probe storage device”, Review of Scientific Instruments, volume 71, number 12, pages 4607-4610, 2000.
12. R. V. Lapshin, “Automatic lateral calibration of tunneling microscope scanners”, Review of Scientific Instruments, volume 69, number 9, pages 3268-3276, 1998.
13. Р. В. Лапшин, В. Н. Рябоконь, А. В. Денисов, “Измерение пространственных характеристик упорядоченных поверхностных наноструктур на сканирующем туннельном микроскопе”, Труды второй международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, выпуск 2, стр. 349-357, Москва, Зеленоград, 1997.
14. R. V. Lapshin, “Analytical model for the approximation of hysteresis loop and its application to the scanning tunneling microscope”, Review of Scientific Instruments, volume 66, number 9, pages 4718-4730, 1995 (имеется русский перевод).
15. R. V. Lapshin, “Hysteresis compensation model for STM scanning unit”, Proceedings of the Second International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-II), Herald of Russian Academy of Technological Sciences, volume 1, number 7, part B, pages 511-529, Moscow, Russia, 1994.
16. R. V. Lapshin, O. V. Obyedkov, “Fast-acting piezoactuator and digital feedback loop for scanning tunneling microscopes”, Review of Scientific Instruments, volume 64, number 10, pages 2883-2887, 1993.

Доклады

1. Р. В. Лапшин, П. В. Азанов, Э. А. Ильичёв, Г. Н. Петрухин, Л. Л. Купченко, “Формирование в аргоновой плазме тлеющего разряда каталитических наночастиц никеля для низкотемпературного синтеза углеродных наноструктур”, Тезисы докладов XIV международного симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 2, стр. 563-564, Нижний Новгород, 15-19 марта, 2010.
2. Р. В. Лапшин, А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, С. Л. Одинцов, В. А. Кротков, “Сглаживание наношероховатостей плёнки полиметилметакрилата вакуумным ультрафиолетом”, Тезисы докладов XIII международного симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 280-281, Нижний Новгород, 16-20 марта, 2009.
3. Р. В. Лапшин, “Автоматическая распределённая калибровка сканера зондового микроскопа”, Тезисы докладов симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 161-162, Нижний Новгород, 25-29 марта, 2005.
4. Р. В. Лапшин, “Способ автоматической коррекции искажённых дрейфом СЗМ-изображений”, Тезисы докладов симпозиума “Нанофизика и наноэлектроника”, том 1, стр. 159-160, Нижний Новгород, 25-29 марта, 2005.
5. S. A. Gavrilov, V. M. Roschin, A. V. Zheleznyakova, S. V. Lemeshko, B. N. Medvedev, R. V. Lapshin, E. A. Poltoratsky, G. S. Rychkov, N. N. Dzbanovsky, N. N. Suetin, “AFM investigation of highly ordered nanorelief formation by anodic treatment of aluminum surface”, Physics, Chemistry and Application of Nanostructures: Reviews and Short Notes to Nanomeeting 2003 (International Conference “Nanomeeting-2003”, Minsk, Belarus, May 20-23, 2003), Edited by V. E. Borisenko, S. V. Gaponenko, V. S. Gurin, World Scientific Publishing Ltd., London, UK, pages 500-502, 2003.
6. R. V. Lapshin, “Feature-oriented scanning for spacecraft-borne remote SPM-investigations”, Workshop on Micro-Nano Technology for Aerospace Applications, Montreal, Canada, August 25-30, 2002.
7. A. P. Alekhin, A. G. Kirilenko, R. V. Lapshin, A. A. Sigarev, “AFM studies of the morphology of the carbon layers deposited on medical low-density polyethylene films by the method of pulsed plasma-arc sputtering of graphite”, Abstracts of the International Conference on Nanotechnology and MEMS (IR04), Galway, Ireland, 2002.
8. С. А. Гаврилов, А. В. Емельянов, Э. А. Ильичев, Р. В. Лапшин, В. М. Рощин, “Особенности изготовления и исследование характеристик нанотранзисторов с полевым управлением”, Тезисы докладов всероссийской научно-технической конференции “Микро- и нано-электроника 2001”, том 2, стр. Р1-1, Москва, Звенигород, 2001.
9. Р. В. Лапшин, “Способ считывания цифровой информации в зондовом запоминающем устройстве”, Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 169-170, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000.
10. Р. В. Лапшин, “Позиционирование зонда сканирующего микроскопа-нанолитографа по локальным особенностям поверхности”, Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 167-168, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000.
11. Р. В. Лапшин, “Исправление искаженных дрейфом СЗМ-изображений”, Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Электроника и информатика – XXI век”, стр. 76-77, Москва, Зеленоград, 22-24 ноября, 2000.
12. Р. В. Лапшин, “Процедура распознавания атомов в СТМ изображениях”, Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, стр. 222-223, Москва, Зеленоград, 11-12 ноября, 1997.
13. С. А. Гаврилов, А. В. Емельянов, Р. В. Лапшин, В. Н. Рябоконь, О. И. Чегнова, “Электрохимическое нанометровое структурирование поверхности кремния”, Тезисы докладов третьей международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, стр. 155-156, Москва, Зеленоград, 11-12 ноября, 1997.
14. R. V. Lapshin, V. N. Ryabokon, A. V. Denisov, “Scanning tunneling microscope measurements of the spatial characteristics of ordered surface nanostructures”, The Fourth International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-IV), Beijing, P. R. China, September 8-12, 1996.
15. А. В. Денисов, Р. В. Лапшин, В. Н. Рябоконь, “Особенности измерения упорядоченных самоорганизующихся структур с нанометровыми размерами методами туннельной микроскопии”, Тезисы докладов второй международной научно-технической конференции “Микроэлектроника и информатика”, стр. 159-160, Москва, Зеленоград, 23-24 ноября, 1995.
16. R. V. Lapshin, “Hysteresis compensation model for STM scanning unit”, The Second International Conference on Nanometer-Scale Science and Technology (NANO-II), Moscow, Russia, August 2-6, 1993.

Патенты

1. Р. В. Лапшин, “Способ коррекции искаженных дрейфом изображений поверхности, полученных на сканирующем зондовом микроскопе”, Патент РФ на изобретение, № 2326367, приоритет от 27.07.2006.
2. Р. В. Лапшин, “Способ автоматической распределенной калибровки сканера зондового микроскопа”, Патент РФ на изобретение, № 2295783, приоритет от 25.01.2005.
3. Р. В. Лапшин, “Способ перемещения зонда сканирующего микроскопа-нанолитографа в поле грубого X-Y позиционера”, Патент РФ на изобретение, № 2181212, приоритет от 07.09.1999.
4. Р. В. Лапшин, “Способ измерения рельефа поверхности сканирующим зондовым микроскопом”, Патент РФ на изобретение, № 2175761, приоритет от 08.06.1999.
5. Р. В. Лапшин, “Способ считывания цифровой информации в зондовом запоминающем устройстве”, Патент РФ на изобретение, № 2181218, приоритет от 02.11.1998.

Гранты

1. А. П. Алехин, К. С. Есенкин, А. Г. Кириленко, В. А. Кротков, Р. В. Лапшин, Б. К. Медведев, К. А. Царик, “Синтез и исследование углеродных наноструктур в мезоскопическом масштабе для придания поверхностям биосовместимых свойств”, Российский фонд фундаментальных исследований, № 05-03-32394, 2005-2007.
2. Б. К. Медведев, Р. В. Лапшин, “Применение алгоритмов и методов информационной технологии для решения задачи считывания данных в зондовом запоминающем устройстве петабитной ёмкости”, Российский фонд фундаментальных исследований, № 05-01-00407, 2005.
3. А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, В. А. Кротков, Р. В. Лапшин, “Разработка низкотемпературных радиационно-стимулированных (спектра синхротронного излучения) процессов формирования структур для медицины”, Грант правительства Москвы в области научно-технических работ и исследований, направленных на развитие города, ОАО Московский комитет по науке и технике, № 42-Т/03, 2003-2004.
4. А. П. Алехин, Д. А. Бялко, А. Г. Кириленко, В. А. Кротков, Р. В. Лапшин, С. Н. Мазуренко, Р. И. Романов, “Исследование физико-химических особенностей радиационно-стимулированного модифицирования поверхностей кристаллических и некристаллических тел для придания им определенных свойств”, Российский фонд фундаментальных исследований, № 02-03-32615, 2002-2004.
5. А. П. Алехин, А. Г. Кириленко, В. А. Кротков, Р. В. Лапшин, “Разработка нанотехнологии модифицирования поверхности полимеров для материалов и изделий медицины”, Грант правительства Москвы в области научно-технических работ и исследований, направленных на развитие города, ОАО Московский комитет по науке и технике, № ГА-74/01, 2001.
6. А. П. Алехин, А. Е. Бочканов, Р. В. Лапшин, А. М. Маркеев, О. И. Науменко, Р. И. Романов, “Исследование индуцированных синхротронным излучением хемосорбционных процессов на поверхностях полупроводников при синтезе слоистых микроструктур”, Российский фонд фундаментальных исследований, № 98-02-17259, 1998-2000.
7. В. Н. Рябоконь, С. А. Гаврилов, А. В. Емельянов, Р. В. Лапшин, О. И. Чегнова, “Упорядоченное структурирование системы металлический слой нанометровых размеров – поверхность твердого тела: моделирование, механизмы формирования, применение в наноэлектронике”, Российский фонд фундаментальных исследований, № 96-02-17870, 1996-1998.
8. В. Н. Рябоконь, А. В. Емельянов, Р. В. Лапшин, Фонд “Физика твердотельных наноструктур”, № 96-2012, 1996.

Диссертация

• Р. В. Лапшин, “Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии”, Автореферат диссертации на соискание учёной степени кандидата технических наук, ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф. В. Лукина, Москва, 2002.
• Р. В. Лапшин, “Объектно-ориентированное сканирование для зондовой микроскопии и нанотехнологии”, Диссертация на соискание учёной степени кандидата технических наук, ФГУП НИИ Физических проблем им. Ф. В. Лукина, Москва, 2002.

Контактная информация:

Страница создана при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Страница соответствует стандарту HTML 4.0 (переходный)
Дата последнего обновления: 1 апреля 2010 г.